Nâng cao chất lượng ảnh chụp siêu âm cắt lớp dùng phương pháp nội suy

Title: Nâng cao chất lượng ảnh chụp siêu âm cắt lớp dùng phương pháp nội suy
 Luận văn ThS. Kỹ thuật điên tử - viễn thông: 60 52 70
Authors: Trần, Đức Tân, người hướng dẫn
Đặng, Quang Vương
Keywords: Kỹ thuật điện tử;Siêu âm cắt lớp;Phương pháp nội suy;Ảnh chụp
Issue Date: 2013
Publisher: Đại học Công nghệ
Abstract: Luận văn ThS. Kỹ thuật điên tử -- Trường Đại học Công nghệ. Đại học Quốc gia Hà Nội, 2013
Phương pháp tán xạ ngược (inverse scattering) sử dụng siêu âm cắt lớp (ultrasound
tomography) cho phép đo được những cấu trúc nhỏ hơn bước song, điều mà phương pháp
 phổ biến trong Y-Sinh là B-mode không thể làm được, nhưng những phương pháp trong ultrasoun (...)
Electronic Resources
URI: http://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/41991

Nhận xét

Bài đăng phổ biến từ blog này

Những vấn đề khoa học và thực tiễn để hình thành hệ thống bảo hiểm thất nghiệp ở Việt Nam

Các di tích văn hóa Champa ở Thừa Thiên Huế

Địa chất sườn lục địa