Nâng cao chất lượng ảnh chụp siêu âm cắt lớp dùng phương pháp nội suy
Title: | Nâng cao chất lượng ảnh chụp siêu âm cắt lớp dùng phương pháp nội suy Luận văn ThS. Kỹ thuật điên tử - viễn thông: 60 52 70 |
Authors: | Trần, Đức Tân, người hướng dẫn Đặng, Quang Vương |
Keywords: | Kỹ thuật điện tử;Siêu âm cắt lớp;Phương pháp nội suy;Ảnh chụp |
Issue Date: | 2013 |
Publisher: | Đại học Công nghệ |
Abstract: | Luận văn ThS. Kỹ thuật điên tử -- Trường Đại học Công nghệ. Đại học Quốc gia Hà Nội, 2013 Phương pháp tán xạ ngược (inverse scattering) sử dụng siêu âm cắt lớp (ultrasound tomography) cho phép đo được những cấu trúc nhỏ hơn bước song, điều mà phương pháp phổ biến trong Y-Sinh là B-mode không thể làm được, nhưng những phương pháp trong ultrasoun (...) Electronic Resources |
URI: | http://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/41991 |
Nhận xét
Đăng nhận xét